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簡要描述：安柏電容測試儀LCRAT261X系列是電容測試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。
產(chǎn)品型號：AT2617廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2023-10-08訪 問 量：650詳細(xì)介紹
| 品牌 | 常州安柏 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 類型 | 智能LCR測量儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
安柏電容測試儀LCRAT261X系列是電容測試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實(shí)時(shí)檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。
主副參數(shù)全5位顯示，可以同時(shí)顯示Z、R、A、A%的一種。高達(dá)0.1%的準(zhǔn)確度，使本儀器可滿足自動化設(shè)備制造廠家、各元件生產(chǎn)和使用廠家、學(xué)校、研究所和計(jì)量質(zhì)檢部門進(jìn)行精確測試和批量生產(chǎn)的要求。
儀器擁有專業(yè)分選功能，具有10組存儲文件，可編程3檔合格檔，1檔附屬檔（副參數(shù)不合格），1檔不合格檔和主參數(shù)HI/IN/LO檔，可設(shè)置百分比分選或絕對值分選，配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設(shè)計(jì)的AT261X，加強(qiáng)了整機(jī)抗干擾電路和保護(hù)電路，滿足自動化設(shè)備（分選機(jī)、老化機(jī)等）的復(fù)雜使用環(huán)境。
安柏電容測試儀LCR產(chǎn)品特點(diǎn)：
真彩TFT-LCD顯示。
儲存999個LCD畫面檔案，觸發(fā)延遲
校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零
校準(zhǔn)功能
比較器功能（分選功能）
文件功能：儀器內(nèi)部Flash存儲器有10個文件可供您用來保存儀器數(shù)據(jù)，
可編程1～256次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。
自定義分選結(jié)果訊響。
內(nèi)置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口，可選GPIB接口。
SCPI和Modbus 通信協(xié)議。
安柏授權(quán)代理商：蘇州威銳科電子有限公司
我們的優(yōu)勢：安柏、是德、泰克、日置、海思、固緯、同惠、普源、艾德克斯等
技術(shù)參數(shù)：
測量參數(shù) | Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q |
基本準(zhǔn)確度 | 0.1% |
測試頻率 | 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01% |
測試量程 | 自動、手動和標(biāo)稱量程，9量程 |
測試速度 | 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒 |
顯示范圍 | C: 0.0001pF – 9.9999mF |
輸出阻抗 | 30Ω，100Ω |
監(jiān)視參數(shù) | Z, R, Δ, Δ% |
讀數(shù) | 99999 |
等效方式 | 串聯(lián)和并聯(lián)等效 |
信號電平 | ACV：10.00mV~2.00V,準(zhǔn)確度：10%,CV模式準(zhǔn)確度：6% |
平均次數(shù) | 1~256 |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部、手動、外部和遠(yuǎn)程 |
觸發(fā)延時(shí) | 0.01ms~60s |
比較器 | 合格檔（BIN1-BIN3）：表示主副參數(shù)均合格； |
比較方式 | 順序/絕對偏差/相對偏差 |
校準(zhǔn) | 開路清零、短路清零（掃頻和點(diǎn)頻) |
文件 | 內(nèi)部存儲10個文件 |
數(shù)據(jù)記錄 | 9999 組文件（.csv) |
訊響功能 | 關(guān)/合格/不合格 |
接口 | 處理機(jī)（Handler）接口/RS232接口/RS485接口/GPIB接口（選件） |
通訊協(xié)議 | SCPI/Modbus |
電源要求 | 90V-260VAC，50Hz至60Hz |
尺寸與重量 | 264(寬)x107(高)x349.5 (深) |
產(chǎn)品應(yīng)用：
基礎(chǔ)元件和材料測量：電容器、電阻器、變壓器等
元器件入料檢測
電容器分選檢測
用于實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制，進(jìn)料檢驗(yàn)以及元器件分選
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