思儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀3674系列可以輕松應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體芯片測(cè)試、材料測(cè)試、天線(xiàn)測(cè)試、高速線(xiàn)纜測(cè)試、微波部組件測(cè)試等帶來(lái)的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成，只需一次連接即可完成多種測(cè)量任務(wù)。創(chuàng)新的人機(jī)交互設(shè)計(jì)可幫助您快速便捷地完成所需的測(cè)量設(shè)置，超大觸摸屏為您帶來(lái)靈活、高效的操作體驗(yàn)。

思儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 具有脈沖S參數(shù)測(cè)量、變頻器件測(cè)量、增益壓縮測(cè)量、噪聲系數(shù)測(cè)量、頻譜測(cè)量、信號(hào)完整性測(cè)量、差分I/Q測(cè)量、有源互調(diào)失真測(cè)量、自動(dòng)夾具移除等21種功能

· 500Hz~120GHz寬頻帶同軸覆蓋

· 30MHz中頻帶寬，測(cè)量點(diǎn)數(shù)200001

· 超快掃描速度，140dB大動(dòng)態(tài)范圍

· SCPI指令同步記錄，腳本一鍵生成

· 15.6英寸多參數(shù)同屏顯示，多點(diǎn)觸控操作

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

脈沖S參數(shù)測(cè)量

內(nèi)置4路脈沖發(fā)生器，用于內(nèi)部源調(diào)制、中頻門(mén)控制，并從后面板輸出。每路脈沖發(fā)生器的脈寬和延時(shí)獨(dú)立可設(shè)。

源調(diào)制來(lái)源包括后面板輸入、內(nèi)部脈沖發(fā)生器和常開(kāi)、常閉等多種狀態(tài)，既可利用外部脈沖對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的源進(jìn)行調(diào)制，也可以使其處于連續(xù)波狀態(tài)，通過(guò)觸發(fā)同步模式進(jìn)行測(cè)量，為T(mén)/R組件、天線(xiàn)收發(fā)模塊等測(cè)試提供有力支撐。

混頻器/變頻器標(biāo)量測(cè)量分析

提供完善的混頻器/變頻器特性設(shè)置，支持雙階本振、外部本振源輸入；支持線(xiàn)性?huà)摺⒐β蕭摺⒍螔叩榷喾N掃描類(lèi)型；通過(guò)簡(jiǎn)單設(shè)置可自動(dòng)完成復(fù)雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計(jì)算；支持源端口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設(shè)置等。

混頻器/變頻器矢量測(cè)量分析

提供完整的混頻器/變頻器幅度響應(yīng)、絕、對(duì)相位及絕、對(duì)時(shí)延響應(yīng)測(cè)量能力。校準(zhǔn)過(guò)程中引入雙混頻器實(shí)現(xiàn)參考通路變頻與校準(zhǔn)通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測(cè)件的變頻特性一致，且校準(zhǔn)混頻器要求變頻特性互易。

單次連接即可完成混頻器/變頻器復(fù)數(shù)特性測(cè)量，幅度和相位測(cè)量精度高。

增益壓縮測(cè)量

增益壓縮測(cè)量功能能夠通過(guò)一次連接、一次校準(zhǔn)完成有源器件在工作頻帶內(nèi)的線(xiàn)性增益、壓縮點(diǎn)增益、壓縮點(diǎn)輸入功率、壓縮點(diǎn)輸出功率、線(xiàn)性輸入匹配等壓縮參數(shù)測(cè)量。

增益壓縮掃描三維圖繪制

提供三維視圖功能，更好地展示被測(cè)件在激勵(lì)狀態(tài)下的工作性能，另外還可以展示頻率切面和功率切面，可以直觀(guān)展現(xiàn)被測(cè)件在每個(gè)頻率點(diǎn)和每個(gè)功率點(diǎn)的特性。

噪聲系數(shù)測(cè)量

一次連接，可同時(shí)測(cè)試S參數(shù)、噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、增益壓縮和變頻增益等多種參數(shù)。基于冷源噪聲系數(shù)測(cè)試方法，可進(jìn)行精確的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測(cè)試。通過(guò)構(gòu)建優(yōu)秀的噪聲相關(guān)矩陣模型，結(jié)合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀精密的S參數(shù)校準(zhǔn)，適用于較小噪聲系數(shù)被測(cè)件的精確測(cè)試。測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍最、大可達(dá)55dB，適用于較大增益被測(cè)件的測(cè)試。

頻譜測(cè)量分析

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的每個(gè)端口都可以完成被測(cè)件的輸入譜和輸出譜的測(cè)量，可在小的分辨率帶寬下快速地定位被測(cè)件雜散譜和諧波的狀態(tài)。

針對(duì)有源器件的測(cè)試，頻譜測(cè)量功能可提供更多的測(cè)量參數(shù)，單臺(tái)儀器通過(guò)單次連接可實(shí)現(xiàn)常規(guī)的S參數(shù)測(cè)試、雜散和諧波的定位測(cè)量；完備的比值和絕、對(duì)測(cè)量誤差修正技術(shù)可提供更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。

信號(hào)完整性測(cè)量分析

具備強(qiáng)大的信號(hào)完整性測(cè)量分析能力，可提供微米級(jí)的空間分辨率。單一視圖同時(shí)完成時(shí)域和頻域測(cè)試分析，可以精準(zhǔn)測(cè)試傳輸線(xiàn)上阻抗特性的變化情況；便捷的近端與遠(yuǎn)端串?dāng)_測(cè)試，用于測(cè)試多條傳輸線(xiàn)之間相互影響的程度。

高級(jí)時(shí)域分析選件具備基于網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的虛擬眼圖生成及分析功能。根據(jù)不同的高速數(shù)字通信標(biāo)準(zhǔn)，高級(jí)時(shí)域分析選件可以使用預(yù)先定義好的眼圖模板進(jìn)行高效率Pass/Fail測(cè)試。

總諧波失真（THD）測(cè)量分析

寬頻帶測(cè)試，可用于真差分激勵(lì)下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數(shù)的分析，簡(jiǎn)化差分器件的諧波性能測(cè)試復(fù)雜度。

單次校準(zhǔn)同時(shí)完成多通道的誤差修正，設(shè)置和測(cè)量參數(shù)的編輯可通過(guò)XML文件的方式進(jìn)行，一鍵實(shí)現(xiàn)參數(shù)導(dǎo)入。

自動(dòng)夾具移除

對(duì)于非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件測(cè)試，如封裝微波器件、在片器件等，此類(lèi)器件無(wú)法與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀直接相連。通常使用夾具將被測(cè)件連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上，但同時(shí)夾具也引入了測(cè)量誤差。自動(dòng)夾具移除功能可以進(jìn)行夾具參數(shù)的提取、存儲(chǔ)以及夾具去嵌入，最終獲得被測(cè)件的真實(shí)參數(shù)。

優(yōu)秀的用戶(hù)體驗(yàn)

界面簡(jiǎn)潔直觀(guān)，便于操作，提高測(cè)試效率

外設(shè)接口豐富，靈活實(shí)用

1-10MHz外參考輸入/輸出接口

2-110V/220V自適應(yīng)電源輸入

3-可拆卸CPU模塊，配置硬盤(pán)、LAN、DP、USB、GPIB接口

4-激勵(lì)輸出、本振輸出等接口，提供靈活的測(cè)量配置，提供靈活的測(cè)量配置

5-外中頻輸入接口，脈沖輸入輸出接口

6-偏置T配置輸入接口

7-自動(dòng)測(cè)試接口，觸發(fā)輸入/輸出接口，噪聲源電源接口

思儀授權(quán)代理商：蘇州威銳科電子有限公司

我們的優(yōu)勢(shì)：思儀、是德、泰克、日置、海思、固緯、普源、安柏、艾德克斯、鼎陽(yáng)、同惠、艾諾等

訂購(gòu)信息：

3674B        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～9GHz）

3674C        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～14GHz）

3674D        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～20GHz）

3674E        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～26.5GHz）

3674F        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～32GHz）

3674G        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～44GHz）

3674H        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～50GHz）

3674K        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～53GHz）

3674L        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～67GHz）

3674N        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～90GHz）

3674P        矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz～110GHz）